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安立知上行鏈路干擾測試新功能 加速辨識5G和LTE TDD網路干擾
CTimes王岫晨
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Anritsu 安立知宣佈增強 Field Master 頻譜分析儀 LTE 和 5G 測量選項的功能。隨著 5G 網路加速推廣與密集化,更加突顯分時雙工 (TDD) 上行鏈路干擾導致的網路效能下降問題。 最新發佈的 Field Master 軟體選項提供 LTE 或 5G 訊框結構 (Frame Structure) 的雙重顯示,自動在上行鏈路時隙佈局閘極,同時顯示閘控時隙的射頻 (RF) 頻譜。

Anritsu 安立知發表上行鏈路干擾測試新功能,加速辨識 5G 和 LTE TDD 網路干擾
Anritsu 安立知發表上行鏈路干擾測試新功能,加速辨識 5G 和 LTE TDD 網路干擾

對於沿海或山區地形的 5G 網路而言,RF 下行鏈路傳輸很容易受到大氣對流層波導的影響。然而,訊號可傳播數百公里,其導致相對於遠端基地台的時間偏移,造成下行鏈路功率遮蔽了來自用戶設備上行鏈路訊號的結果。最理想的情況是,一個國家中所有營運商及國際邊界的網路都部署統一的訊框時隙格。新的上行鏈路干擾測量包括 GSMA、ITU-R和ECC/CEPT等國際標準組織所建議的通用訊框時隙格式之配置。

Anritsu 安立知的 Field Master 頻譜分析儀具有 LTE 和 5G 測量選項,是全球監管機構和營運商的首選測試儀器。此次新增了上行鏈路干擾測量功能,有助於詳細瞭解新型 TDD 網路中常見的干擾原因,進一步提升其價值。

5G 和 LTE 測量選項適用於覆蓋 FR1 和 FR2 頻段範圍的 Field Master Pro MS2090A,以及僅覆蓋 FR1 網路的新型 Field Master MS2080A。除了 5G 和 LTE 測量之外,實時頻譜分析儀還能夠擷取詳細的發射機頻譜,而其電纜和天線分析儀配件則便於掃描饋線電纜。

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